熱門關(guān)鍵詞: 高壓開關(guān)動作特性測試儀 斷路器特性測試儀 變壓器綜合測試系統(tǒng) 承裝承試設(shè)備選型 高壓開關(guān)測試儀 變壓器綜合測試 串聯(lián)諧振
序號
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項 目
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要 求
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說 明
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1
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整相繞組(或分支)及單根線棒的tgδ增量(Δtgδ) |
①整相繞組(或分支)的Δtgδ值不大于下列值:
②定子電壓為6kV和10kV的單根線棒在兩個不同電壓下的Δtgδ(%)值不大于下列值:
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①在絕緣不受潮的狀態(tài)下進行試驗 ②槽外測量單根線棒tgδ時,線棒兩端應(yīng)加屏蔽環(huán) ③可在環(huán)境溫度下試驗 |
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2
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整相繞組(或分支)及單根線棒的第二電流增加率ΔI(%) |
①整相繞組(或分支)Pi2在額定電壓Un以內(nèi)明顯出現(xiàn)者(電流增加傾向倍數(shù)m2>1.6),屬于有老化特征。絕緣良好者,Pi2不出現(xiàn)或在Un以上不明顯出現(xiàn) ②單根線棒實測或由Pi2預(yù)測的平均擊穿電壓,不小于(2.5~3)Un ③整相繞組電流增加率不大于下列值:
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①在絕緣不受潮的狀態(tài)下進行試驗 ②按下圖作出電流電壓特性曲線 ΔI=(I-I0)/I0×100% 式中 I—在Un下的實際電容電流; I0—在Un下I=f(U)曲線中按線性關(guān)系求得的電容電流 ④電流增加傾向倍數(shù) m2=tgθ2/tgθ0 式中 tgθ2—I=f(U)特性曲線出現(xiàn)Pi2點之斜率; tgθ0—I=f(U)特性曲線中出現(xiàn)Pi1點以下之斜率 |
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3
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整相繞組(或分支)及單根線棒之局部放電量 |
①整相繞組(或分支)之局部放電量不大于下列值:
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4
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整相繞組(或分支)交、直流耐壓試驗 | 應(yīng)符合表1中序號3、4有關(guān)規(guī)定 | |||||||||||||
注:1.進行絕緣老化鑒定時,應(yīng)對發(fā)電機的過負荷及超溫運行時間、歷次事故原因及處理情況、歷次檢修中發(fā)現(xiàn)的問題以及試驗情況進行綜合分析,對絕緣運行狀況作出評定。 2.當(dāng)發(fā)電機定子繞組絕緣老化程度達到如下各項狀況時,應(yīng)考慮處理或更換絕緣,其采用方式包括局部絕緣處理、局部絕緣更換及全部線棒更換。 (a)累計運行時間超過30年(對于瀝青云母和烘卷云母絕緣為20年),制造工藝不良者,可以適當(dāng)提前; (b)運行中或預(yù)防性試驗中,多次發(fā)生絕緣擊穿事故; (c)外觀和解剖檢查時,發(fā)現(xiàn)絕緣嚴(yán)重分層發(fā)空、固化不良、失去整體性、局部放電嚴(yán)重及股間絕緣破壞等老化現(xiàn)象; (d)鑒定試驗結(jié)果與歷次試驗結(jié)果相比,出現(xiàn)異常并超出表中規(guī)定。 3.鑒定試驗時,應(yīng)首先做整相繞組絕緣試驗,一般可在停機后熱狀態(tài)下進行,若運行或試驗中出現(xiàn)絕緣擊穿,同時整相繞組試驗不合格者,應(yīng)做單根線棒的抽樣試驗,抽樣部位以上層線棒為主,并考慮不同電位下運行的線棒,抽樣量不作規(guī)定。 |